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题名:
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材料现代测试分析方法 [ 专著] cai liao xian dai ce shi fen xi fang fa / 刘庆锁主编 , |
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ISBN:
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978-7-302-37444-2 价格： CNY39.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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328页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 清华大学出版社 出版日期： 2014 |
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内容提要:
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本书包括X射线衍射分析、电子显微分析两大部分，主要内容包括：X射线衍射方程与强度、多晶体分析方法及X射线衍射分析仪、物相的定性与定量分析、晶体点阵参数的精确确定、透射电镜结构及其成像原理、电子衍射、图像衬度、衍射运动学分析、高分辨透射电子显微技术、扫描电镜结构与原理、电子探针显微分析等。 |
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主题词:
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材料 测试 |
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中图分类法:
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TB302 版次： 5 |
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主要责任者:
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刘庆锁 liu qing suo 主编 |